晶體振蕩器
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計測試,萬用表等無法測量, 否則只能采用代換法了.
2.晶振常見故障有:a.內部漏電,b.內部開路c.變質頻偏d.外圍相連電 容漏電.這里漏電現(xiàn)象,用的VI曲線應能測出.
3.整板測試時可采用兩種判斷方法:a.測試時晶振附近既周圍的有關 芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點.
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨 意短路. 五.故障現(xiàn)象的分布
1.電路板故障部位的不完全統(tǒng)計:1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%, 3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢).
2.由上可知,當待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問題時,又沒有好板子,既 不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.
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晶體振蕩器實際應用
晶體振蕩器實際應用的環(huán)境需要慎重考慮。例如,高強度的振動或沖擊會給振蕩器帶來問題。除了可能產生物理損壞,振動或沖擊可在某些頻率下引起錯誤的動作。這些外部感應的擾動會產生頻率跳動、增加噪聲份量以及間歇性振蕩器失效。對于要求特殊EMI兼容的應用,EMI是另一個要優(yōu)先考慮的問題。除了采用合適的PC母板布局技術,重要的是選擇可提供輻射量小的時鐘振蕩器。一般來說,具有較慢上升/下降時間的振蕩器呈現(xiàn)較好的EMI特性。我公司備有大量現(xiàn)貨,有需要的客戶,歡迎前來選擇!
串聯(lián)型晶體振蕩器的類型與電路的振蕩過程
因為信號是反饋到VT1發(fā)射極,現(xiàn)假設VT1發(fā)射極電壓瞬時極性為“+”,集電極電壓極性為“+”(發(fā)射極與集電極是同相關系,當發(fā)射極電壓上升時集電極電壓也上升),VT2的基極電壓極性為“+”,發(fā)射極電壓極性也為“+”,該極性的電壓通過X1反饋到VT1的發(fā)射極,反饋電壓極性與假設的電壓極性相同,故該反饋為正反饋。
接通電源后,三極管VT1、VT2導通,VT2發(fā)射極輸出變化的Ie電流中包含各種頻率的信號,石英晶體X1對其中的f0信號阻抗很小,f0信號經X1、RP1反饋到VT1的發(fā)射極,該信號經VT1放大后從集電極輸出,又加到VT2放大后從發(fā)射極輸出,然后又通過X1反饋到VT1放大,如此反復進行,VT2輸出的f0信號幅度越來越大,VT1、VT2組成的放大電路放大倍數越來越小,當放大倍數等于反饋衰減系數時,輸出f0信號幅度不再變化,電路輸出穩(wěn)定的f0信號。
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